معهد النانو ينظم محاضرة "مطياف الكتلة الأيونية الثانوية (SIMS) والمطياف الإلكتروني (XPS) أدوات متقدمة لتوصيف السطوح"

معهد النانو ينظم محاضرة "مطياف الكتلة الأيونية الثانوية (SIMS) والمطياف الإلكتروني (XPS)
أدوات متقدمة لتوصيف السطوح"

نظم معهد الملك عبدالله لتقنية النانو محاضرة للباحث البلجيكي الدكتور/ نمر وهبي، باحث أول في مختبر التصوير والتوصيف الأساسي بجامعة الملك عبد الله للعلوم والتقنية بعنوان:
" Secondary lon Mass Spectrometry (SIMS) & X-Ray Photoelectron Spectroscope (XPS): Powerful tools for surface Characterization "
"مطياف الكتلة الأيونية الثانوية (SIMS) والمطياف الإلكتروني (XPS): أدوات متقدمة لتوصيف السطوح"
وذلك يوم الأربعاء 12 شعبان 1440هـ الموافق 17 ابريل 2019م، بحضور سعادة المشرف العام على المعهد الدكتور حمد بن عبدالعزيز البريثن، والدكتور علي بن كناخر الدلبحي وكيل المعهد للشؤون البحثية، والدكتور عبدالعزيز بن ناصر الهزاع وكيل المعهد للشؤون الفنية، كما حضر عدد من الباحثين المهتمين بهذه التقنيات من داخل المعهد وخارجه، وتخلل خلال المحاضرة عدة نقاشات حول هذه التقنية.
 وقد أشار المشرف العام على المعهد أن هذه التقنية ستتوفر قريباً بمختبرات المعهد والتي تعد الوحيدة حالياً بمختبرات جامعة الملك سعود، كما أشار سعادته أن مثل هذه المحاضرات تأتي امتداداً لتفاعل معهد الملك عبدالله لتقنية النانو في النشاطات العلمية والتقنية في مجال علوم وتحقيقا لأهداف المعهد بالتميز والريادة في أبحاث تقنية النانو وتطبيقاتها.